所屬欄目:化工論文 發布日期:2017-08-29 14:09 熱度:
陶瓷原料中還有大量的二氧化硅,隨著化工技術的發展,這些二氧化硅經過一系列處理流程可以發揮更大的效用,文章主要是介紹對陶瓷原料中二氧化硅工業管理技巧。
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氟硅酸鉀容量法是將試樣用堿熔融,不溶性酸性氧化物二氧化硅轉變成可溶性的硅酸鹽,加酸后生成游離的硅酸,在過量的氟離子和鉀離子存在下,硅酸與氟離子作用形成氟硅酸離子,進而與鉀離子作用生成氟硅酸鉀沉淀。該沉淀在熱水中會水解生成氫氟酸,用氫氧化鈉標準溶液滴定,由消耗的氫氧化鈉標準溶液的體積計算二氧化硅的含量。
1引 言
在傳統陶瓷中,SiO2是陶瓷坯體的主要化學成分,是硅酸鹽形成的骨架,它的存在可以提高陶瓷材料的熱穩定性、化學穩定性、硬度、機械強度等,從而直接影響陶瓷產品的生產工藝和使用性能,同時SiO2也是各種釉料配方的重要參數。因此,準確測定陶瓷原料中SiO2的含量,對陶瓷和釉料生產非常重要,它關系到原材料的用量、產品的質量和性能等。
不同的陶瓷原料,其SiO2的含量不同,測量方法也有多種。本文對陶瓷原料中SiO2的常見檢測方法逐一作了介紹。
2氫氟酸揮發法
2.1 硫酸-氫氟酸法
當試樣中的SiO2含量在98%以上時,可采用此法。具體方法如下:將測定灼燒減量后的試料加數滴水濕潤,然后加硫酸(1+1)0.5ml,氫氟酸(密度1.14g/cm3)10ml,蓋上坩堝蓋,并稍留有空隙,在不沸騰的情況下加熱約15min,打開坩堝蓋并用少量水洗二遍(洗液并入坩堝內),在普通電熱器上小心蒸發至近干,取下坩堝,稍冷后用水沖洗坩堝壁,再加氫氟酸(密度1.14g/cm3)3ml并蒸發至干,驅盡三氧化硫后放入高溫爐內,逐漸升高至950~1000℃,灼燒1h后,取出置于干燥器中冷至室溫后稱量,如此反復操作直至恒重。二氧化硅含量的計算公式如下:
SiO2(%)=(m1-m2)/m ×100
式中:
m1 —— 灼燒后坩堝與試料的質量,g
m2 —— 氫氟酸處理后坩堝的質量,g
m —— 試料的質量,g
2.2硝酸-氫氟酸法
當試樣中的SiO2含量大于95%而小于或等于98%時,可采用此方法。具體如下:
(1) 將試料置于鉑坩堝中,加蓋并稍留縫隙,放入 1000~1100℃高溫爐中,灼燒1h。取出,稍冷,放入干燥器中冷至室溫,稱量。重復灼燒,稱量,直至恒重。
(2) 將坩堝置于通風櫥內,沿坩堝壁緩慢加入3ml硝酸、7ml氫氟酸,加蓋并稍留縫隙,置于低溫電爐上,在不沸騰的情況下,加熱約30min(此時試液應清澈)。用少量水洗凈坩堝蓋,去蓋,繼續加熱蒸干。取下冷卻,再加5ml硝酸、10ml氫氟酸并重新蒸發至干。
(3) 沿坩堝壁緩緩加入5ml硝酸蒸發至干,同樣再用硝酸處理兩次,然后升溫至冒盡黃煙。
(4)將坩堝置于高溫爐內,初以低溫,然后升溫至1000~1100℃灼燒30min,取出,稍冷,放入干燥器中冷至室溫,稱量。重復灼燒,稱量,直至恒重。二氧化硅含量的計算公式如下:
SiO2(%)=[(m1-m2)+(m3-m4)]/m×100
式中:
m1——試料與坩堝灼燒后的質量,g
m2——氫氟酸處理并灼燒后殘渣與鉑坩堝的質量,g
m3——試劑空白與鉑坩堝的質量,g
m4——測定試劑空白所用鉑坩堝的質量,g
m ——試料的質量,g
3重量-鉬藍光度法
重量-鉬藍光度法所測定的范圍是SiO2含量小于95%。具體如下:
(1) 對可溶于酸的試樣,可直接用酸分解;對不能被酸分解的試樣,多采用Na2CO3作熔劑,用鉑坩堝于高溫爐中熔融或燒結之后酸化成溶液,再在水浴鍋上用蒸發皿蒸發至干,然后加鹽酸潤濕,放置一段時間后,加入動物膠,使硅酸凝聚,攪勻,放置5min,用短頸漏斗、中速濾紙過濾、濾液用250ml容量瓶承接。將沉淀全部轉移到濾紙上,并用熱鹽酸洗滌沉淀2次,再用熱水洗至無氯離子。
(2) 將沉淀連同濾紙放到鉑坩堝中,再放到700℃以下高溫爐中,敞開爐門低溫灰化,待沉淀完全變白后,開始升溫,升至1000℃~1050℃后保溫1h取出,稍冷即放入干燥器中,冷至室溫,稱量。重復灼燒,稱量,直至恒重。
(3) 加數滴水潤濕沉淀,加4滴硫酸、10ml氫氟酸,低溫蒸發至冒盡白煙。將坩堝置于1000~1050℃高溫爐中灼燒15min,取出稍冷,即放入干燥器中,冷至室溫,稱量。重復灼燒,稱量,直至恒重。
(4) 加約1g熔劑到燒后的坩堝中,并置于1000~1050℃高溫爐中熔融5min,取出冷卻。加5ml鹽酸浸取,合并到原濾液中,用水稀釋到刻度,搖勻。此溶液為試液A,用于測定殘余二氧化硅、氧化鋁、氧化鐵和二氧化鈦。
(5) 用移液管移取10ml試液A于100ml容量瓶中。加入10ml水、5ml鉬酸銨溶液,搖勻,于約30℃的室溫或溫水浴中放置20min。
(6) 加入50ml乙二酸-硫酸混合溶液,搖勻,放置0.5~2 min,加入5ml硫酸亞鐵銨溶液,用水稀釋至刻度,搖勻。
(7) 用10mm吸收皿,于分光光度計690nm處,以空白試驗溶液為參比測量其吸光度。二氧化硅的值由繪制的工作曲線上查得。二氧化硅含量的計算公式如下:
SiO2(%)=[m1-m2+m3(V/V1)-(m4-m5)]/m×100
式中:
m1 —— 氫氟酸處理前沉淀與坩堝的質量,g
m2 —— 氫氟酸處理后沉淀與坩堝的質量,g
m3 —— 由工作曲線查得的二氧化硅量,g
m4 —— 氫氟酸處理前空白與坩堝的質量,g
m5 —— 氫氟酸處理后空白與坩堝的質量,g
V1 —— 分取試液的體積,ml
V —— 試液總體積,ml
m —— 試料的質量,g
4氟硅酸鉀容量法
重量-鉬藍光度法的準確度較高,但對于一些特殊樣品,如螢石CaF2,由于含有較大量的氟,會使試樣中的Si以SiF4形式揮發掉,不能用重量法測定。還有重晶石以及鋯含量較高的樣品、鈦含量較高的樣品,在重量法的條件下形成硅酸的同時,會生成其它沉淀,夾雜在硅酸沉淀中。所以這些特殊樣品不能用重量法測定,可用氟硅酸鉀容量法來測定SiO2的含量。
應用該分析方法時應嚴格控制分析條件,具體應注意以下幾點:
(1) 樣品的處理是先用氫氧化鈉熔融,然后用水浸取,再加鹽酸酸化,然后得到樣品溶液。當樣品中鋁、鈦含量較高時,為防止氟鋁酸鈉和氟鈦酸鈉沉淀的生成,可用氫氧化鉀代替氫氧化鈉。氫氟酸揮發法歷來被認為是趕硅的一種方法,但實踐證明,在一定的條件下,四氟化硅和氫氟酸能共處于同一溶液中,因此,在溶解過程中,只要控制一定的體積,硅即以氟硅酸的形式留在溶液中,從而可測定硅的含量。
(2) 為了保證硅的沉淀完全,加入氟化鉀和氯化鉀的量應過量。但氟化鉀和氯化鉀的量若過大,則當樣品中的鋁、鈦含量較高時干擾情況比較嚴重。一般在鋁、鈦含量不高時,50ml溶液加氟化鉀1.5~2.0g;而鋁、鈦含量較高時加1~1.5g。氯化鉀的加入量還與沉淀時的溫度有關。20℃時,50ml溶液加8g氯化鉀;高于25℃則需加入10g以上。
(3) 沉淀時為減少沉淀的溶解和沉淀的洗滌困難,溫度應低于30℃,體積不大于50ml,沉淀應在放置15min后過濾。
(4) 測定的干擾一般來自鋁、鈦,對高鋁和高鈦的試樣可加入氯化鈣、過氧化氫、草酸銨、草酸和熔樣用的氫氧化鉀來代替氫氧化鈉、用硝酸代替鹽酸作介質的方法來消除干擾。
氟硅酸鉀容量法具有快速、準確、精密度高的特點,因此廣泛應用于陶瓷生產中的控制分析。
文章標題:陶瓷原料中二氧化硅含量測量方法與利用對策
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